方塊電阻測(cè)試原理
發(fā)布時(shí)間： 2023-08-21 16:09:08 點(diǎn)擊： 1643
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測(cè)量值。這個(gè)數(shù)值可以用來計(jì)算熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關(guān)，其單位為Siements/sq，也可以用歐姆/sq表示。
方塊電阻測(cè)試是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測(cè)試方法。其測(cè)量原理是基于四探針法，通過四個(gè)探針的接觸來提供測(cè)試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時(shí)，可以計(jì)算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據(jù)這個(gè)比值，儀器內(nèi)部會(huì)自動(dòng)計(jì)算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號(hào)為Ω。
方塊電阻測(cè)試是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測(cè)試方法。其測(cè)量原理是基于四探針法，通過四個(gè)探針的接觸來提供測(cè)試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時(shí)，可以計(jì)算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據(jù)這個(gè)比值，儀器內(nèi)部會(huì)自動(dòng)計(jì)算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號(hào)為Ω。
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